8V182512IDGGREP Texas Instruments 配給業者
| 製造業者識別番号 | 8V182512IDGGREP |
|---|---|
| メーカー/ブランド | Texas Instruments |
| 利用可能な数量 | 53910 Pieces |
| 単価 | Quote by Email ([email protected]) |
| 簡単な説明 | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
| 製品カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック |
| 鉛フリーステータス/ RoHSステータス | Lead free / RoHS Compliant |
| 耐湿性レベル（MSL） | 1 (Unlimited) |
| 納期 | 1-2 Days |
| 日付コード（D / C） | New |
| データシートダウンロード | 8V182512IDGGREP.pdf |
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- 品番
- 8V182512IDGGREP
- 生産状況（ライフサイクル）
- Contact us
- メーカーリードタイム
- 6-8 weeks
- 調子
- New & Unused, Original Sealed
- 発送方法
- DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
- 部品ステータス
- Active
- ロジックタイプ
- ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- 供給電圧
- 2.7 V ~ 3.6 V
- ビット数
- 18
- 動作温度
- -40°C ~ 85°C
- 取付タイプ
- Surface Mount
- パッケージ/ケース
- 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- サプライヤデバイスパッケージ
- 64-TSSOP
- 重量
- Contact us
- 応用
- Email for details
- 交換部品
- 8V182512IDGGREP
によって作られた関連部品 Texas Instruments
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Texas Instruments （TI）High-Speed CMOS Logic Hex Buffer/Line Driver, Three-State Non-Inverting and Inverting IC -
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関連キーワード "8V182"
| 品番 | メーカー | 説明 |
|---|---|---|
| 8V182512IDGGREP | Texas Instruments | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |