Número de pieza del fabricanteSN74BCT8374ADWRE4
Fabricante / MarcaTexas Instruments
Cantidad disponible80700 Pieces
Precio unitarioQuote by Email ([email protected])
Breve descripciónIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
categoria de productoLógica - Lógica de especialidades
Estado sin plomo / estado de RoHSLead free / RoHS Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 1 (Unlimited)
El tiempo de entrega1-2 Days
Código de fecha (D / C)New
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Número de pieza
SN74BCT8374ADWRE4
Estado de producción (ciclo de vida)
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Fabricante plazo de ejecución
6-8 weeks
Condición
New & Unused, Original Sealed
forma de envio
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
Estado de la pieza
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de suministro
4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor
24-SOIC
Peso
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Solicitud
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Repuesto
SN74BCT8374ADWRE4

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