Référence fabricantSN74LVTH182646APM
Fabricant / marqueTexas Instruments
quantité disponible131790 Pieces
Prix unitaireQuote by Email ([email protected])
Brève descriptionIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
catégorie de produitLogique - Logique spécialisée
Statut sans plomb / Statut RoHSLead free / RoHS Compliant
Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) 1 (Unlimited)
Heure de livraison1-2 Days
Code de date (D / C)New
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Numéro d'article
SN74LVTH182646APM
Statut de production (cycle de vie)
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Délai d'exécution du fabricant
6-8 weeks
État
New & Unused, Original Sealed
Manière d'expédition
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
État de la pièce
Active
Type de logique
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Tension d'alimentation
2.7 V ~ 3.6 V
Nombre de bits
18
Température de fonctionnement
-40°C ~ 85°C
Type de montage
Surface Mount
Paquet / cas
64-LQFP
Package de périphérique fournisseur
64-LQFP (10x10)
Poids
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Application
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Pièce de rechange
SN74LVTH182646APM

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