Número de pieza del fabricanteSN74LVTH18646APM
Fabricante / MarcaTexas Instruments
Cantidad disponible123240 Pieces
Precio unitarioQuote by Email ([email protected])
Breve descripciónIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
categoria de productoLógica - Lógica de especialidades
Estado sin plomo / estado de RoHSLead free / RoHS Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 1 (Unlimited)
El tiempo de entrega1-2 Days
Código de fecha (D / C)New
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Número de pieza
SN74LVTH18646APM
Estado de producción (ciclo de vida)
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Fabricante plazo de ejecución
6-8 weeks
Condición
New & Unused, Original Sealed
forma de envio
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
Estado de la pieza
Active
Tipo de lógica
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Voltaje de suministro
2.7 V ~ 3.6 V
Cantidad de bits
18
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / caja
64-LQFP
Paquete de dispositivo del proveedor
64-LQFP (10x10)
Peso
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Solicitud
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Repuesto
SN74LVTH18646APM

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