Hersteller-TeilenummerSN74BCT8374ANTG4
Hersteller / MarkeTexas Instruments
verfügbare Anzahl116170 Pieces
StückpreisQuote by Email ([email protected])
Kurze BeschreibungIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
ProduktkategorieLogik - Speziallogik
Bleifreier Status / RoHS-StatusLead free / RoHS Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL) 1 (Unlimited)
Lieferzeit1-2 Days
Datumscode (D / C)New
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Artikelnummer
SN74BCT8374ANTG4
Produktionsstatus (Lebenszyklus)
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Hersteller lieferzeit
6-8 weeks
Bedingung
New & Unused, Original Sealed
Lieferweg
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
Teilstatus
Obsolete
Logiktyp
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung
4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits
8
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Befestigungsart
Through Hole
Paket / Fall
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket
24-PDIP
Gewicht
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Anwendung
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Ersatzteil
SN74BCT8374ANTG4

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Artikelnummer Hersteller Beschreibung
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